可提供的EDXRF分析仪,35kv/9w或40kv/18w
台式EDXRF光谱仪:经济、准确、易于使用
主要应用:石油化工,聚合物,学术/教育,建筑,冶金,合金,环境,采矿和地质,法医学,鉴定与贵金属,制药与生物医学
系统规格:
●非破坏性元素分析C(6)-Fm(100)从PPM到100%浓度。
●六个可定制的过滤器,用于快速准确地确定痕量和微量元素。
●分辨率低至125eV。
●坚固的设计,紧凑的几何形状。
●带有8/16个位置的样品盘。
●借助专有的nEXt™软件包,易于操作
●Xenemetrix的X-Cite能量色散X射线荧光(EDXRF)光谱仪为元素分析提供了市场上最便捷的性价比解决方案。
●紧凑型光谱仪可以方便地安装在传统的实验台上,包括一个完全集成的计算机系统。坚固的设计和构造使该仪器成为移动实验室的理想选择。
●Xenemetrix的X-Cite采用高分辨率探测器和功能强大的X射线管,可变光斑尺寸,以适应各种尺寸的样品。
●该分析仪提供C(6)-Fm(100)的无损定性和定量测定。卓越的产品性能,能够在今天和未来提供强大的分析结果。这种方法在有限的样品量或必须保留样品完整性用于其他目的的应用中特别有价值。
●该创新装置优于传统系统,没有液氮冷却的成本和困难。
●完整的计算功能已集成到系统的设计中,可进行全面的数据分析和传输。
硅漂移探测器(SDD)
硅漂移探测器可实现更高的计数率,更高的分辨率,低至125eV的响应速度以及更快的响应速度
PD(Pin二极管)检测器
超薄探测器窗口为低Z元件提供卓越的性能。 基本可靠的探测器,分辨率≥150eV。
技术参数
检测器 | 硅漂移探测器(SDD),窗口分辨率低至125eV |
元素分析 | C (6) - Fm (100) |
可检测的浓度 | ppm - 100% |
激发 | X射线源40kV,18W,带Rh/Ag/Mo/W/Pd 阳极 |
激发类型 | 直接使用过滤器 |
自动进样器 | 8/16个位置 |
重量 | 50kg |
外形尺寸 | 系统:L55 x W55 x H32内室:22 x 22cm, H=5cm |
定制管式过滤器 | 6软件可选 |
定制准直器 | 0.3 mm - 3 mm |
工作环境 | 空气/氦气/真空 |
电源 | 110-230VAC 50/60Hz |
软件 | Analytix分析包(在Microsoft Windows™OS下运行) |
可选软件 | 高级基础参数分析,Standartless软件,库 |
选配 | 样品微调器,CCD相机 |