Genius IF

具有二次靶的台式EDXRF光谱仪                        

主要应用：石化，聚合物，冶金，合金，环境，石油，燃料，柴油和液体，采矿和地质，法医学，鉴定和贵金属，制药和生物医学。

具有二次靶的台式EDXRF光谱仪

● Xenemetrix的Genius IF（二次靶）EDXRF光谱仪在当今的元素分析市场中提供了一种经济高效的解决方案。

●该分析仪提供从C (6) - Fm (100)的非破坏性定性和定量测定，提供从亚ppm到高百分比浓度的检测限。

Genius IF具有强大的组件，包括：

●完全集成的计算机系统

●高分辨率硅漂移探测器

●功能强大的X射线管，可变光斑尺寸，可容纳各种尺寸的样品

●8个二次靶和8个可定制的管式过滤器，可快速准确地测定痕量和微量元素

Genius IF也可以在经典的直接激励模式下运行。

硅漂移探测器（SDD）

●硅漂移探测器可实现高计数率，提高分辨率，低至125eV和快速响应时间，从而最大限度地减少操作停机时间。

●SDD LE-Ultra - 超薄探测器窗口为低Z元素分析提供卓越的性能。

二次靶

●Genius IF具有独特的专利几何结构，结合了八个二次靶，在直接激发模式下使用八个可定制的管式过滤器，以便对EDXRF中可检测到的所有元素进行最佳激励。

●以WAG（广角几何）专利的二次靶技术为微量和痕量元素分析提供了最佳结果。

●X射线管激发二次靶（纯金属）的特征K线，其用于“单色地”激发样品。

●通过使用二次靶，可以进一步降低某些元素的检测限。

●相对于传统的ED-XRF仪器，Genius IF的较低检测限使其具有更大应用范围，并将该仪器变为最通用的元素分析仪。

技术参数