Genius IF
能量色散X射线荧光光谱仪(ED-XRF)
采用二次靶技术
能量色散X射线荧光光谱仪Genius IF
Genius IF提供了一种经济高效的元素分析解决方案。该能量色散X射线荧光（EDXRF）光谱仪可以对C（6）- Fm（100）范围内的多种元素进行亚ppm级别无损定性及定量元素分析。
高度集成的光谱仪采用复杂独特的设计结合了自定义滤光片和二次靶技术，可放在传统实验室工作台上，适用于多种高端应用领域。
二次靶技术
全能型元素分析仪
Genius IF采用专利几何结构，设计8个二次靶并配备直接激发模式下8个自定义滤光片，使得仪器以最优的激发方式检测所有元素。WAG（广角几何）专利技术下的二次靶技术为痕量元素和微量元素的测量提供了最佳的解决方案。
由X射线管激发产生的射线激发二次靶材料（纯金属）的特征K线，进而用于激发待测样品。通过使用二次靶技术，可进一步降低某些元素的检测限。更低的检测限意味着Genius IF能够异于传统EDXRF仪器而适用于更加广泛的用途，成为一款全能型多元素分析仪器。
二次靶技术与直接激发模式谱图对比：
图中显示了峰背比提升的效果，其中蓝色轮廓部分代表使用了二次靶技术，而红色区域部分为直接激发模式的图谱。
Genius IF技术参数
检测元素范围 | C（6）- Fm（100） |
检测浓度范围 | 亚ppm - 100% |
X射线管靶材料 | Rh/Ag/Mo/W/Pd |
X射线源性能 | 50kV，50W，10μA ~ 2mA |
激发类型 | 滤光片自定义直接激发、二次靶技术 |
稳定性 | 常温精度可达0.1% |
探测器类型 | 硅漂移探测器（SDD） |
分辨率（FWHM） | 125eV±5eV |
探窗材料 | Be |
自动测样 | 16/8个样品位置 |
工作介质环境 | 空气/氦气/真空环境 |
自定义滤光片 | 8种，可通过软件切换 |
自定义二次靶 | 8种，可通过软件切换：Si、Ti、Fe、Zn、Ge、Zr、Mo和Sn |
自定义准直器 | 0.3mm-3mm |
供电 | 110-230V AC，50/60Hz |
信号处理 | 数字信号处理器 |
系统尺寸 | 55W x 55L x 32H cm（未包装）；80W x 80L x 65H cm（包装后） |
系统重量 | 50kg（净重）；90kg（毛重） |
测量腔室尺寸 | 22 x 22cm，H=5cm |
计算机 | 集成PC、SSD硬盘，Windows 10操作系统，WiFi，Mini HDMI，USB等接口，内置专用分析软件。 |
操作软件 | Analytix专用软件（Windows操作系统） |
可选软件 | 高级基本参数分析软件、无标样分析软件、元素库软件 |
操控 | 自动控制激发、探测、样品处理及数据处理 |
图谱处理 | 自动峰识别及本底扣除，自动峰去卷积，图形统计 |
可选件 | SDD LE探测器，样品自旋器 |