Apollo
环境空气颗粒物元素分析
Apollo
环境空气颗粒物元素分析EDXRF
Apollo是专业的环境空气颗粒滤膜无损分析设备。满足US-EPA相关空气质量监管要求,检出限优于IO-3.3相关要求值。可对大气颗粒中所含有的几十种元素进行定性及定量分析。Apollo提供快速、准确的测量结果,简单易用,并具备极佳的检测限。Apollo能够无损分析空气滤膜,并对滤膜样品进行定性定量分析。采用高功率二次靶技术的Apollo通过设置不同的电压及电流激发二次靶,以提供单色的激发光源,增加信噪比,达到极佳的检测限及灵敏度。
专业分析大气颗粒滤膜样品。
分析测试空气污染物,符合US-EPA相关空气质量监管要求。
对于滤膜样品可从Na(11) – Fm(100)元素范围无损分析。
配备8个滤光片及8个二次靶。
配备8滤光片8二次靶的Apollo系统能够应用于多种领域,并表现出针对IO-3.3标准中44中元素的优秀检测能力。
Apollo的激发功率可达400W,通过滤光片及二次靶的切换,可轻松测量样品中的各种轻元素及重元素。其探测限优于美国EPA标准中规定的限值,尤其对于Na,Mg,Al等轻元素的探测,更是表现出其优秀的检测能力。
Xenemetrix二次靶技术
Apollo采用专利几何结构,设计8个二次靶并配备直接激发模式下8个自定义滤光片,使得仪器以最优的激发方式检测所有元素。WAG(广角几何)专利技术下的二次靶技术为痕量元素和微量元素的测量提供了最佳的解决方案。
由X射线管激发产生的射线激发二次靶材料(纯金属)的特征K线,进而用于激发待测样品。通过使用二次靶技术,可进一步降低某些元素的检测限。更低的检测限意味着Apollo能够异于传统EDXRF仪器而适用于更加广泛的用途,成为一款全能型多元素分析仪器。
Apollo特殊设计的样品杯
考虑到不同类型及尺寸滤膜样品及滤膜标样,Apollo有针对性的设计了专业的样品杯以适应多种需求。
以嵌套的方式满足不同尺寸的滤膜样品。
适应36 mm Micromatter公司标准滤膜产品。
适应47 mm 特氟龙、聚丙烯及NIST标准膜产品。
配合自旋器实现样品自旋功能。
非金属材质、有效避免了金属材质的元素干扰(如Al元素)。
Apollo技术参数
探测器 | Be窗口硅漂移探测器(SDD),分辨率可达125eV |
激发源 | 400W,60kV,Rh靶X光管(根据需求定制其它靶材) |
元素分析范围 | Na(11) – Fm(100) |
检测浓度范围 | 亚ppm – 100% |
激发类型 | 直接滤光片及二次靶技术 |
自动进样 | 支持10个30mm/8个47mm样品位,或客户指定尺寸 |
重量 | 约110kg |
测量腔室尺寸 | 直径28cm,高度H=6cm |
自定义滤光片 | 8种,可通过软件切换 |
自定义二次靶 | 8种,可通过软件切换 |
自定义准直器 | 0.3mm-3mm基于客户需求 |
工作介质环境 | 空气/氦气/真空,并配备相关接口及流量检测元件 |
供电 | 115V AC/60Hz或230V AC/50Hz |
计算机系统 | 内置集成计算机系统 |
操作软件 | Analytix专用软件(Windows操作系统) |
可选软件 | 高级基本参数分析软件、无标样分析软件、元素库软件 |
备选件 | 样品自旋功能、真空泵等 |